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外延層載流子濃度測(cè)試

設(shè)備:汞探針CV濃度測(cè)試儀CVmap 92A

廠商:美國Four Dimensions, Inc.(簡稱4D)

用途:檢測(cè)SiC/GaN外延層載流子濃度分布

技術(shù)指標(biāo):

具有不同面積汞接觸, 點(diǎn)-環(huán)接觸等功能,可測(cè)試SiC,GaN等半導(dǎo)體晶片載流子濃度分布


  • 地址:廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號(hào)12棟5樓

  • 電話:0769-33882377

  • 郵箱:nfjc@cwbg-nf.com

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